De Kyoritsu 6024PV is een multifunctionele isolatieweerstand- en aardingsweerstandtester voor met name PV-installaties. Door de toegepaste meettechniek kan de isolatieweerstand gemeten worden zonder het kortsluiten van de strings. Daardoor is deze meting veiliger en kan de meting ook overdag zonder verduistering van de panelen uitgevoerd worden. De tester is IP54 en geschikt om te gebruiken onder slechte weersomstandigheden. De compacte vormgeving en lichtgewicht uitvoering maakt de tester handig in gebruik. Het display, dat ook is voorzien van achtergrondverlichting, toont naast de meetwaarde ook de duur van de meting. De tester is geschikt voor PV-installaties tot 1000V en heeft een geheugen voor 1000 metingen. De metingen kunnen met de meegeleverde KEW Report software worden verwerkt op de PC.
Kenmerken:
- Isolatieweerstandsmeting PV-installaties 500/1000V
- Isolatieweerstandsmeting 250/500/1000V
- Meetsnoer met ingebouwde startknop
- Aa
 | |
Measured value memory: | true |
Indication: | Digital |
Low resistance measurement: | false |
Earthing measurement: | true |
Interface: | true |
Isolation resistance measurement: | true |
Over voltage protector testing: | false |
Loop resistance/impedance measurement: | false |
Mains internal resistance measurement: | false |
RCD/FI testing: | false |
Field rotation test: | false |
Selective grounding measurement: | false |
Earth loop measurement: | false |
Specific grounding measurement: | false |
Printer connection: | false |
Limit value indication: | true |
RCD/FI testing with rising residual current: | false |
RCD/FI analysis function: | false |
Detection short-circuit current/over current protection: | false |
Remote control for testing device: | false |
Loop measurement without RCD/FI release: | false |
Resistances of isolating floors and walls: | false |
Printer integrated: | false |
Isolation resistance measurement with ramp function: | false |
Low resistance measurement with ramp function: | false |
PRCD testing type S, type K: | false |
Testing of IMDs and RCMs: | false |
Measuring of leakage currents with adapter: | false |
Testing of charging devices E-Mobility, simulation of vehicle status: | false |
Structured measured value memory: | true |